一、基本準則

　　辦理專利鑑定，首先需研究且明瞭待鑑定樣品之技術內容，並依下列的判斷原則，以解釋專利案之申請專利範圍所主張的技術內容範圍( 主要為獨立項 )：

(一)關於認識限度之原則

　　解釋專利案之申請專利範圍其技術範圍，原則上對非為發明創作事項係不予專利，即不得超過申所能認識之發明創作限度。技術範圍則應以熟習該項技術者依專利說明書、圖式而作為判斷，若依據此資料仍無法明瞭時，應再參酌專利案卷宗資補充判斷。

(二)用效果之原則

技術範圍基於申請專利範圍(claim) 作解釋時，待鑑定樣品之技術內容，雖落入於其專利案之申請專利範圍內，惟實質上未能達成如其所載之特殊作用效果者，則應不屬於該專利案之技術範圍內。
專利說明書所載之作用效果，理論上雖可行，但依其說明之構造或組成，並無法達成其所主張之效果者，則不屬於該專利案之技術範圍。
不得僅以待鑑定樣品在技術之作用效果上，與專利案係為同一，就認定其屬於專利案之技術範圍內。
專利案之作用效果，如經載明於請求項中，即應屬專利案之構成要件，不具備此構成要件者，原則不屬於專利案之技術範圍內。
(三)關於以「吉普森式請求項」(Jepson Type Claim)表達之形專利案之原則。

「吉普森式請求項」之形式，係將習知部分或舊有成分於前言中敘述，以揭示本專利案完成所必要之習知技術，然後於請求主體中敘述新的或改良徵部分者。

一般以「一種，係由……構組成），……，其特徵在於……」方式書寫。吉普森式請求項前言所載事項，一般雖屬於公知事位概念，但既已載於請求項中，而構成專利範圍前言部分或限制條件，則不論其為公知事項成本專利案要旨之一部分，併同特徵部分成為請求項技術範圍之判斷依據。

然後再將待鑑定樣品及專利案之申請專利範圍之技術內容，解析成若干必要技術構成後，並參酌下列規範之方式，而逐一進行異同比較：

(一)專利標的為物品時，應就申請專利範圍所述之形狀與所送物品做比較；但若所送物品無法檢視結構，或雖可拆解，但會遭不可回復壞，應先主動告知此事實後再辦理之，若是所僅為部分組件，則應請提供完整之物品後，再作比較。

(二)專利標的為組成物，應就申請專利範圍所述之成份及比例與所送組成物證據做比較。

(三)專利標的為方法時，應就申請專利範圍所述之步驟、順序與所送證據或現場實施的方法做比較；唯若是專利，而證物為產品，或者所送之書面證據欠缺具體技術內容，可認為所送物品或證據與專利標的無法比較。

因經由分析比較後，待鑑定樣品相對於專利案之申請專利範圍之技術範圍，則會有以下所列舉之結論情形：

(一)必要技術構成完全相同──與申請專利範圍相同

即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成發生有待鑑定樣品的技術構成，係均為專利案之申請專利範圍其要求保護的全部必要技術特徵蓋者。

(二)增加一上其他技術構成──與申請專利範圍相

即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成相比，發生有待鑑定樣品的技術構成，係包含了專利案之申請專利範圍的全部必要技術特徵外，尚增加的技術特徵者。

(三)部分必要技術構成不相同，但不相同部分屬於等效之替代──與申請專利範圍相同

即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成相比，就構成而言，雖然在技術構成之數量上兩者係相等，唯其中之技術構成是有不相同之情形。經比較分析後，認定待鑑定樣品與專利案所不同之技對熟習該項技術者而言，僅係屬於等效手段替代者。

(四)缺少申請專利範圍中的非必要技術構成──與申請專利範圍相同

即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成相比，雖然缺少專利案之申請專利範圍中的部分必要構成，但此缺少的技術構成部分，實際上對熟習該項技術者而言，係屬於無實質意義之技術特徵者。

(五)缺少一個或一個以上必要技術構成──與申請專利範圍不相同

即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成係缺少專利案之申請專利範圍中的一個或一個以上必要技術構成，因為專利案之申請專利範圍係不可分割的，故專利案之申請專利範圍中之所有技術構成，係屬於未被利用者。

(六)有一個或一個以上必要技術構成不相同──與申請專利範圍不相同

即待鑑定樣品的技術構成與專利案的技術構成相比，由於在其必要技術構成上，係有一項以上不相同，且對熟習該項技術者而言，亦不屬於等效物者。二、鑑定侵害判斷之流程

全要件原則（ALL ELEMENT RULE）
分析專利權之申請專利範圍其所有構成要件及被告對象之所有構成要件並逐一加以比較。若待鑑定樣品具有申請專利範圍的每一個構成要件，且其技術內容相同，就認定兩者為相同（詳細內容請參閱 P45，全要）。

(1)全要件原則，認定無適用時，為適用均等論(C-3)

(2)全要件原則，認定有適用時，為適用消極均等論(C-4)

適用均等論(C-3)(詳請參閱 P31～36均等論）
(1)運用原則

實質上為同一技術手段或方法，同一作用，且產生同一結果時，兩者為均等物。
兩者中有等效置換性，而為熟習該項技術者所能輕兩者為均等物。
(2)申請專利範圍之構成要件之特徵與待鑑定樣品之對成要件不完全相同，且亦無上述運用原則a、b者時，兩者為不相同(C-5)

與待鑑定樣品之對應構成要件相同時，即需考慮進入禁反言(C-6)。

(3)注意事

熟習該項技術人士所輕易完成之形狀、構造、裝置之變更，實質之功能無變化者，為均等物。

熟習該項技術人士所輕易完成之方法之步驟順序變更，實質之功能無變化者，為均等物。

待鑑定樣品為在既有技術之範圍，為不適用均等論。專利侵害之技術鑑定，應以侵害當時之技術水平作

適用禁反言(C-6)（詳細內容請參閱 P36～44，禁反言之原則）
當被告主張，專利權人對專利權範圍之主張有前後矛盾時，則適用禁反言之原則。

(1)雖然均等論之認定為相同，但適用禁反言時，其認定為不相同(C-7)。無適用禁反言，就維持均等論(C-8)。

(2)注意事項

禁反言之原則，適用於申請專利範圍之縮減補正。申請過程或核准後，專利權人有放棄之事實，即不得再行主張。唯對於有關物質發明專利，需注意下述，即在有利用該物質特性而衍生出的一系列相關產品上，縱使有禁反言之原則適用，但對於有使用該物質專利權之事實並未改變；並不因而就脫離關係；因此不可僅僅認為有禁反言之原則適用，就指認專利權人有效棄該物質專利權之事實。

適用消極均等論(C-4)
對全要件原則認為相同者，再次與申請專利範圍作比對，以不同之發明技術方法或手段來確認。

(1)利用消極均等論，認定待鑑定樣品為實質上無利用發明之技術方法或手段，則該部分與申請專利範圍所對應之部分不相同(C-9)

(2)利用消極均等論，認定待鑑定樣品為實質上利用發明之技術方法或手段，則全部與申請專利範圍相同 (C-10)。

適用禁反言 (C-10)，其認定原則與C-7、C-8相同。

一、報告架構

侵害鑑定報告之撰寫，概分成以下四部分：(一)鑑定事項(二)鑑定理由(三)鑑定結論(四)附件，茲詳細說明如下：

(一)鑑定事項：將待鑑定物品與專利權之名稱、所有人簡要記載。

例如：○○製售之○○物品是否侵害○○公司所有之第○○○○○○○○「警示裝置」專利案( 發明第○○○○號專利權)。

(二)鑑定理由：依鑑定人之判斷，詳細記述達成鑑定結論之理由。

鑑定標 的
(1)專利權：
第○○○○○○○○號專利案之申請專利範圍 在於...........。
(2)待鑑定物品：將物品名稱、所有人、來源、種類及其特徵詳細記載。
異同比較：
申請專利範圍與待鑑定物品之異同詳細比對，並有參酌下述事項之事實者，則應詳細記述之，以形成鑑定結論之理由。
參酌事項：

以申請專利範圍為基礎，必要時參酌說明書及圖式。
學說（周邊限定、中心限定、禁止反言等）及判例。
專利申請過程之參酌（禁止反言）。
公知事實之參酌：
(1)既有技術知識之調查（對本專利說明書中所提及之既有技術或知識之再確認）。

(2)公知事實之排除（關係專利之有效性）。

(3)同一申請人之先後申請案。

本專利未釐清之用語加以解釋( 用語可分一般用法及特殊用法 )。
(三)鑑定結結論：將鑑定結果簡潔記載。

例如：待鑑定物品與第○○○○○○○○號專利案(發明第○○○○專利權)之申請專利範圍相同。

(四)附件：

本專利案資料待物品
待鑑定物品
二、範例說明

範例(一)

(一)鑑定事項

○○製售之電視遊樂器之控制器( 以下稱待鑑定物品 )是否與○○公司所有之第○○○○電視遊樂器之控制器」專利案 ( 新式樣第○○○○專利權，以下稱本專利）之申利範圍相同。

(二) 鑑定理由

本專利案之申請專利範圍在於「控制器機體形由兩端半圓形藉中間小矩形連結，形成前緣局部凹陷，底面側視呈斜弧面之斜底扁平體，其圓形框內設十字形按鈕，右側較大圓形框內均設四個圓形按鈕，中間偏下設橫排兩平行之細長圓形功能鍵，後端緣兩側各設微凸長條形按鍵。

參酌專利申請相關資料之記載，可知電視遊樂器之控制器面板上之「圓形框內設十字形按鈕及四個圓形按鈕」為同類物品之習知形狀，而其機體之造形變化及控制部件之配置為造形設計之要部。

以待鑑定物品與本專利案之申請專利範圍相比對，待鑑定物品之「整體形狀概呈腰果形扁平體，其上下緣分別以凸凹弧形修飾，兩端呈圓弧形，底面平直，上表面中央以斜向轉折細凹線分割，中間右下斜排兩撥桿式功能鍵」與本專利案之「控制器機體形狀由兩端半圓形藉中間小矩形連結，形成前緣局部凹陷底面側視呈斜弧面之斜底扁平體，正面中間偏下設橫排兩斜向平行之細長圓形之功能鍵，後端緣兩側各設微凸長條形按鍵」等主要部位形狀顯著不同，其相同之處，僅限於「圓形框內設十字形按鈕及圓形框內均設四個圓形按鈕」非關重要部之局部形狀，唯就這些局部形狀，係屬為熟悉該項技術者所習知之既有形狀。由於待鑑定物品之腰果形機體及其面板之整體形狀，與本專利案產生有明顯之差異，係不屬於本專利案之申請專利範圍之請求範圍內，故待鑑定物品與本專利案在形狀上非屬相同。　

(三)鑑定結論：待鑑定物品與第○○○○○○○○號專利案（新式樣第○○○○號專利權）之申請專利範圍不相同。

(四)附件

本專利案資料
待鑑定物品

(一)鑑定事項

○○製售之包裝盒（以下稱待鑑定物品）是否與○所有之第○○○○○○○○號「包裝盒」專利案（以下稱本專利）之申請專利範圍相同。

(二)鑑定理由

本專利之申請專利範圍在於「包裝盒四周盒面上，分別施以包裝物及各種適用狀態圖，正面於適當比例處，以粗黑線分割為物品及各種適用狀態圖，該粗黑分割線延伸至兩側面呈中斷狀Ｓ形，背面為呈上缺口之矩形粗框線，其內配置物品圖及標題」。

待鑑定物品之包裝盒四周盒面，分別施以包裝物及各種適用狀態圖，正面於適當比例處，以粗黑線分割為物品及各種適用狀態圖，粗黑分割線延伸至兩側面呈中斷狀Ｓ形，背面為呈上缺口之矩形粗框線，其內配置物品圖及標題，待鑑定物品與本專利之花紋構圖及配置已構成混同，故待鑑定物品與本專利屬近似。

有關新式樣物品上之文字，除具裝飾效果之變形字或必要之功能性文字（如儀表上之指示數字）以外，一般之說明文字不能作為新式樣專利保護之。本案待鑑定物品包裝盒上之一般說明，雖為本專利所無，基於前述原則，此種差別顯然非本案審究之重點，不影響待鑑定物品與本專利近似之認定。

(三)鑑定結論：待鑑定物品與第○○○○○○○○號專利案之申請專利範圍近似。

本專利案資料。
待鑑定物品。
範例(三)

(一)鑑定事項

○○公司製售之束腹帶( 以下稱待鑑定物品)是否與○○所有之第○○○○○○○○號「改良型束腹帶」專利案( 新型第○○○○號專利權，以下稱本專利）申請專利範圍內容相同。

(二)鑑定理由：

(1)本專利之申請專利範圍為：

一種改良型束腹帶，其特徵在於：束腹帶之包覆主體分區，兩（或多）區間以車縫銜接而成，各區之帶體係以橫列間隔之編織性條狀緊帶排列而成，各緊帶之間則以直向織接非彈性織線，俾構成各緊帶之間隔留有織線間空隙之透氣縫，配合條狀鬆緊帶內面之粒狀棉結凸列，促進空氣對流，提供皮膚對外呼吸之良好管道。

束腹帶之包覆主體分區：兩（或多）區間以車縫銜接而成；
各區之帶體係以橫列間隔之編織性條狀鬆緊帶排列而成，各鬆緊帶之間以直向織接非彈性織線；
條狀緊帶內面之粒狀棉結凸列；其專利之重點之所以是由三項重點同時構成一項，……乃是由於該三項重點之作用均有相關暨相輔相成之效果，……該條狀鬆緊帶之內面部位設置粒狀棉結凸列，乃是在於克服束腹帶與腹圍部分貼緊時，區隔而形成對流空氣分佈之真正作用效果。」
(3)今待鑑定物品與本專利相較，雖然兩者均係於束腹帶包覆主體分區，各區間以車縫銜接，各區之帶體以橫列間隔之編織條狀鬆緊帶排列，各鬆緊帶間以直向織織接非彈性織線；惟待鑑定物品之各鬆緊帶內面並無粒狀棉結凸列，故就整體構造功效而言，待鑑定物品與本專利之申請專利範圍不同。

(三)鑑定結論

待鑑定物品之構造與第○○○○○○○○號專利案( 新型第○○○○號 )之申請專利範圍不同。

(四)附件

本專利案資料
待鑑定樣品
範例（四）

(一)鑑定事項

甲公司製售之平行線製圖用尺規（以下稱待鑑定物品甲）是否與○○公司所有之第○○○○○號「平行線製圖用尺規」專利案（新型第○○○○○○○○號專利權，以下稱本專利）申請專利範圍內容相同。

(二)鑑定理由

本專利案之申請專利範圍有二項，一項為獨立項，另一項為附屬項：

一種平製圖用尺規，係由均具有劃線斜邊之(Ａ)和尺規(Ｂ)組合而成，其中尺規(Ａ)的基準邊(1)成形有固定規則連續凹凸鋸齒(3)，尺規(B)的基準邊(2)則成形有與尺規(Ａ)其連續凹凸鋸齒(3)相嵌合之固定凹凸鋸齒(4)。
如申請專利範圍第1項所述之平行線製圖用尺規，其中尺規(Ａ)和尺規(Ｂ)之凹凸鋸齒(3)、(4)係為山形齒狀者。

以待鑑定物品甲與本專利案之申請專利範圍相比對，待鑑定物品甲構成要件為尺規(A')和尺規(B')，且其基準邊(1')(2')，具有相嵌合的連續波浪形凹凸鋸齒(3')和(4')以劃出平形線之形狀構造，甚且尺規(Ａ)和尺規(A')均係"連續"凹凸鋸齒形狀構造，故係屬於本專利案之申請專利範圍第1項「一種平行線製圖用尺規，係由均具有劃線斜邊(5)之尺規(Ａ)和尺規(Ｂ)組合而成，其中尺規(Ａ)的基準邊成形有固定規則連續凹凸鋸齒(3)，尺規(Ｂ)的基準邊則成形有與尺規(Ａ)其連續凹凸鋸齒相嵌合之固定凹凸鋸齒(4)」造特徵範圍；但鑑定物品甲之尺規(A')和(B')其凹凸鋸齒(3')、(4')係呈波浪狀齒形，與本專利案之申請專利範圍第２項指明界定凹凸鋸為山形者則非屬相同。

(三)鑑定結論：待鑑定物品甲與第○○○○○○○○號專利案（新型第○○○○號專利權）之申利範圍第１項內容相同，與申請專利範圍第2項內容不相同。

(四)附件

本專利案資料
待鑑定物品
範例(五)

(一)鑑定事項

乙公司製售之平形線製圖用尺規（以下稱待鑑乙）是否與○○公司所有之第○○○○○○平行線製圖用尺規」專利案（新型第○○○○號專利權，以下稱本專利）申請專利範圍相同。

(二)鑑定理由

本專利案之申請專利範圍有二項，一項為獨立項，另一項為附屬項：

一種平行線製圖用尺規，係由均具有劃線斜邊(5)之尺規 (Ａ)和尺規(Ｂ)組合而成，其中尺規(Ａ)的基準邊成形有固定規則連續凹凸鋸齒，尺規(Ｂ)的基準邊則成形有與尺規(Ａ)其連續凹凸鋸齒相嵌合之固定凹凸鋸齒(4)。
如申請專利範圍第1項所述之平行線製圖用尺規，其中尺規(Ａ)和尺規(Ｂ)之凹凸鋸齒、係為山形齒狀者。

以待鑑定物品乙與本專利案之申請專利範圍相比對，待鑑定物品乙其構成要件與本專利案同樣係由尺規(A')和尺規(B')所組成，具其中尺規(A')之形狀構造與本專利案之尺規(Ａ)相同，且有連續凹凸鋸齒形狀構造，而尺規(B')與本專利案之尺規(Ｂ)在基準面形成之鋸齒，僅係為不連續單一突起(6')與連續凹凸鋸齒形狀構造之差異，唯此形狀構造之變更，就熟習該項技術者而言屬一般性之變更，故鑑定物品乙與申請專利範圍第1項所述之形狀構造特徵係屬實質相同。且鑑定物品乙之尺規(A')和(B')其凹凸齒(3')和突起(6')係均形成山形，與本專利案之專利申請範圍第２項指明界定凹凸鋸齒(3)、(4)為山形者，亦屬實質相同。

(三)鑑定結論：待鑑定物品乙與第○○○○○○○○號專利案（新型第○○○○號專利權）之申請專利範圍第１項內容實質相同，與申請專利範圍第2項內容實質相同。

(四)附件

本專利案資料
待鑑定物品
範例(六)

(一)鑑定事項

丙公司製售之平行線製圖用尺規（以下稱待鑑定物品丙）是否與○○公司所有之第○○○○○號「平行線製圖用尺規」專利案（新型第○○○○號專利權，以下稱本專利）申請專利範圍相同。

(二)鑑定理由

本專利案之申請專利範圍有二項，一項為獨立項，另一項為附屬項：

1.一種平行線製圖用尺規，係由均具有劃線斜邊之尺規(Ａ)和尺規(Ｂ)組合而成，其中尺規(Ａ)的基準邊(1)成形有固定規則連續凹凸鋸齒(3)，尺規(B)的基準邊(2)則成形有與尺規(Ａ)其連續凹凸鋸齒相嵌合之固定凹凸鋸齒(4)。

2.如申請專利範圍第1項所述之平行線製圖用尺規，其中尺規(Ａ)和尺規(Ｂ)之凹凸鋸齒、係為山形齒狀者。

以待鑑定物品丙與本專利案之申請專利範圍相比對，待鑑定物品丙其構成要件與本專利案同樣係由尺規(A')和尺規(B')所組成，由於其中尺規(A')之形狀構造與本專利案之尺規(Ａ)並不相同，不具有尺規(Ａ)連續凹凸鋸齒形狀構造特徵，且尺規(B')其凹形鋸齒(6')與尺規(Ｂ)之凹凸鋸齒(3)形狀構造特徵亦非相同，故鑑定物品丙與本案專利之申請專利範圍第１項內容不相同，同理可說第２項內容亦不相同。

(三) 鑑定結論：待鑑定物品丙與第○○○○○○○○號專利案（新型第○○○○號專利權之申請專利範圍第１項範圍內容（實質）不相同，與申請專利範圍第２項範圍內容（實質）不相同。

(四)附件

本專利案資料
待鑑定物品
範例(七)

(一)鑑定事項：○○製售之大型電驛驅動電路（以下稱待鑑定物品）是否與○○公司所有之第○○○○○小型電驛驅動電路」專利案（發明第○○○○號專利權，以下稱本專利案）之申請專利範圍相同。

(二)鑑定理由

本專利之申請案專利範圍：

　　一種小型動電路係包含Ａ部分為IC(8255)，反向器(7404)及電阻(1K)，Ｂ部電晶體(2SC945)，Ｃ部分為二極體 (1S953)與電驛(HB2-DC5V)之三部分所組成；由IC之信號經反向器以控制電晶體,使電晶體成導通狀態，電驛就動作。

　　待鑑定物品之「大型電驛的驅動電路」係包含ａ部IC(8255)，反向器及電阻(Ｒ)，ｂ部分為電晶體(２個)與電阻(Ｒ)，Ｃ部分為二極體(Ｄ)與電驛(二組)之三部分所構成；其動作情況為由IC輸出之信號經反向器以控制二個電晶體，使電晶體成導通狀態，小型電驛就動作以控制大型電驛，使主電流通過負荷。

本案之申請專利範圍明確為利用反向器之信號輸出，以控制電晶體成導通狀態，小直流電流就經由電晶體使電驛動作。而待鑑定物亦用反向器之信號輸出，以控制第一個電晶體，再使第二個電晶體成導通狀態，以控制電驛，因此本案用一個電晶體與待鑑定物品用二個電晶體作導通之作用，其實質上為相同；另待鑑定物用小型電譯再控制大型電驛與本案用一個電驛之作用為相同，因此二者驅動電路設計實質為相同。下述為利用全要件原則，均等論、禁反言之原則論述：

全要件原則

(三) 鑑定結論

待鑑定物品之裝置與第○○○○○○○○號專利案（發明第○○○○號專利權）之申請專利範圍實質相同。

(四)附件

本專利案資料
待鑑定樣品
範例(八)

(一)鑑定事項

甲公司製售之鋼筋接合器（以下稱待鑑定物品甲），是否與○○公司所有之第○○○○○○○號鋼筋接合器」專利案（新型第○○○○專利權，以下稱本專利案）申請專利範圍內容相同。

本專利案之申請專利範圍為一項獨立項：

「一種鋼筋接合器，係於中間具有隔板的圓筒體的隔板兩側之筒壁各設一個或數個窺視孔者。」
（註：依據本專利案之說明，本專利案之鋼筋接合器可節省鋼筋材料，且連結牢靠，特別對壓縮力具抗力。而且，其構造簡單，施工容易，借助隔板可防止兩鋼筋之嵌入長度不均衡，透過窺視孔可檢視嵌入圓孔的鋼筋深度，以確認其施工。)

待鑑定物品之鋼筋接合器係於圓筒體筒壁設一個或數個孔。待鑑定物品與本專利案之申請專利範圍相比對。待鑑定物品並不具有本專利案之隔板構件，而依本專利案之說明書，因圓筒體中間有隔板，使兩鋼筋之連結極為牢靠，特耐壓縮力，可防止兩鋼筋嵌入長度不均衡之技術性事項，係本專利案之必要構件，待鑑定物品既無此一必需構件，自不能認定與本專利案之申請專利範圍相同。

(三)鑑定結論

待鑑定物品甲與第○○○○○○○○號專利案利案（新型第○○○○號專利案）之申利範圍不相同。

(四)附件

本專利案資料
待鑑定物品
範例(九)

(一)鑑定事項

乙公司製售之鋼筋接合器（以下稱待鑑定物品乙）是否與○所有之第○○○○○○○○號「鋼筋接合器」專利案（新型第○○○○號專利權，以下稱本專利案）申請專利範圍內容相同。

本專利案之申請專利範圍為一項獨立項：

「一種鋼筋接合器，係於中間具有隔板的圓筒體的隔板兩側之筒壁各設一個或數個窺視孔者。」 (註：依據本專利案之說明，鋼筋接合器以頂端面接合鋼筋，且連結牢固，特耐壓縮力。其構造簡單、施工容易，借助隔板，可防止兩鋼筋之嵌入長度不均勻，且可透過窺視孔檢視嵌入圓孔之鋼筋之深度，以確認其施工。)

待鑑定物品之鋼筋接合器亦係於中間具有隔板的圓統體的隔板兩側之筒壁各設數個窺視孔者。但是其係使用於變形鋼筋之接合，以使混凝土和鋼筋間之附著強度增加者。待鑑定物品雖然特別使用於「變形鋼筋」之接合，此係本專利案說明所未記載者，但此與申請專利範圍所載鋼筋接合器無關係，此一限定用途，對申請專利範圍所載內容而言，並無任何變更，自可認定其與本專利案之申請專利範圍相同。

(三) 鑑定結論：待鑑定物品乙與第○○○○○○○○號專利案（新型第○○○○號專利案）之申請專利範圍相同。

(四)附件

本專利案資料
待鑑定物品

第２圖為本專利案的構造

第３圖為被告裝置的構造

專利案為一自動變壓器。

被告裝置為線圈耦合變壓器，與專利案相較：兩者由電源輸出至線圈之接點設計不同，專利案為自動可變式，被告裝置則為固定式；故輸出電壓一為自動變壓式，另一則為固定電壓。亦即，兩者構造不同，達成之功效也不同。

二、Malta案件〔21 USPQ 2D 1161(Fed. Cir. 1991)〕

說　明：

本專利案係有關可變化音色的手搖鈴（如第４圖所示）。此鐘之鐘舌係被懸吊於鐘之中央在一垂直平面上振動，敲擊鐘之本體而發聲。鐘舌有6個（３組）打擊面，各組具有不同的硬度。其中利用一組配合鐘舌之振動面，發出相對應的音色之音。此鐘並非新穎者，本案發明之本質為在演奏中可變更此打擊面之組的構造。

在控訴審成為問題點之第３請求項，對鐘舌之限定要素記載成「具有垂直於軸桿且能轉動的圓形之打擊子(striker) ，其打擊子係於其外周上設有複數對之打擊鈕(button)，前述各對打擊鈕具有各自不同的硬度。」被告製品上並無打擊鈕，硬質橡膠之鐘舌上用布覆著，設有細縫或洞孔以改變硬度。此Malta 案件在美國地方法院由陪審團予以審理作出均等論之侵害之評決，而地方法院判決時，則認為不侵害；CAFC基於以下理由不認為有由於均等論引起的侵害，維持地方法院之判決。

CAFC對申請專利範圍之所有限定要素或其均等物若於被告製品中並不存在時，則採取依均等論引起的侵害不成立之立場。
原告何以認為被告製品整體之機能、作用、結果是否個別與申請專利範圍實質上相同，何以具有細縫之塑膠為布氈被覆的塑膠，是否為申請專利範圍中之「鈕(button)」之均等物並未予充分的說明。
於申請專利範圍第2項內採用有所謂「表面部分之廣義概念，而第3 項內則採用所謂「鈕」之第1 實施例之下位概念。對一請求項中使用上位概念而另一請求項內使用下位概念之情形，由於使用不屬於下位概念可避免對使用下位概念之請求項之侵害的印象已深入人心所至。」
此外，對應於請求項第3項之圖已被表示成Fig.7 ，而與此不同另於Fig.3 表示有具「打擊面」之實施例。因此，於Fig.7所示者幾全具有Fig.3 所示者之優點，惟在設計、彈性、簡易性方面則不同。由之說明。由此得知兩者在way(方式)方面可說是不同。(第五圖)

離子分析裝置案件( BGH 1988年 6月14日判決，(GRUR 1988,896)(Ⅱc 991,249)

本案有關利用色層層析術之離子分析裝置，其特徵在於為使試料之離子化所用的溶離劑中性化而採的提取(stripping )部。此提取部係由在挾持離子交換薄膜之二個通道之一側上流動著含有試料之溶離劑，於另一側使交換薄膜之再生劑流動予以構成。溶離劑中之離子經由離子交換薄膜移向再生劑中，反之，再生劑中之之離子則經由離子交換薄膜移向溶離劑中。結果可無需進行離子交換薄膜之週期性再生即可連續的分析試料。（參照第六圖）

至於被告製品，其提取部具有經予相當縮小的二個交換薄膜，進一步於其外側上對立設置有陰陽電極。含有試料之溶離劑係於二個離子交換薄膜之間流動，而再生劑係於離子交換薄膜與陰或陽之電極所挾持的二個通道間流動。若施加電壓於電極上則來自另一再生劑通道之離子經由一個離子交換薄膜移向溶離劑中，溶離劑中之離子經由另一離子交換薄膜移向另一側之再生劑中。無需週期性的再生離子交換薄膜而可連續分析試料一事係與專利發明相同的。

本案法院認定係由於均等引起的侵害，而德國聯邦最高法院認為有進一步審理之需要撤回控訴法院之判決發回更審；在專利發明之離子交換樹脂係進行著對向的離子交換，至於被告裝置中之離子則僅移向由電場決定的方向。
控訴法院認為此一不同點在專利法上並不足取。本案專利之裝置上以一片薄膜進行的功能係在被告裝置上以二片薄膜共同進行而成，由而在該情形下被利用作本案專利之「決定性重要考量方法」( 隔開薄膜利用與溶離劑對向流動的再生劑之離子交換薄膜之連續性再生 )之點上並未任何變動。
控訴法院僅對二個裝置具有同等功效之重要思想上確認已達成一致。以此作為專利侵害之理由並不足夠。重要者在於熟習該項技藝人士經檢討專利之申請專利範圍所記載的發明，運用自己的專業知識，是否能發現為被告裝置所採用的改變手段。亦即，熟習該項技術人士如被告裝置般，對申請專利範圍所記載的裝置，以再生劑與交換樹脂所滿足的二個通道（陽極通道與陰極通道）予以構成，各交換膜未能單獨達成本案專利所揭示的一片離子交換薄膜所具的功能( 裝置被施以電壓時 )，須確認能否已改變同時共同合作所能達成的態樣。於申請專利範圍內所記載的裝士而言，為獲得與被告裝置實質上同等的功效，基於熟習該項技藝思熟慮若未能給予可改變該裝置之教示時，則將該裝置視為本案發明應受保護之使被否定的。